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產(chǎn)品詳情
簡單介紹：
有全系列的X-射線供應(yīng)。詳細(xì)的規(guī)格參見下面的表格。所有的設(shè)備遵循ASTM B568， DIN 60 987和 ISO 3497等國家和標(biāo)準(zhǔn)。
詳情介紹：
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HELMUT FISCHER制造用于鍍層厚度測量和材料分析的X射線熒光系統(tǒng)有超過17年的經(jīng)驗。通過對所有相關(guān)過程包括X射線熒光測量法的處理和使用了新的軟件和硬件技術(shù)，F(xiàn)ISCHER公司的X射線儀器具有其獨特的特點。
的WinFTM®（版本3（V.3）或版本6（V.6））軟件是儀器的核心。它可以使儀器在沒有標(biāo)準(zhǔn)片校準(zhǔn)并保證一定測量精度的情況下測量復(fù)雜的鍍層系統(tǒng)，同時可以對包含多達24種元素的材料進行分析（使用WinFTM® V.6軟件） 典型的應(yīng)用范圍如下：  單一鍍層：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。 二元合金層：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。 三元合金層：例如Ni上的AuCdCu合金。 雙鍍層：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等等。 雙鍍層，其中一個鍍層為合金層：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。 多24種鍍層（使用WinFTM® V.6軟件）。 分析多達4種（或24種－使用V.6軟件）元素。 分析電鍍?nèi)芤褐械慕饘匐x子濃度。 |
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FISCHERSCOPE |
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測量方向 |
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X-射線管型號 |
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可調(diào)節(jié)的高壓 |
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開槽的測量箱體 |
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基本Ni濾波器 |
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接收器(Co) |
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數(shù)準(zhǔn)器數(shù)目 |
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z-軸 |
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測量臺類型 |
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測試點的放大倍率 |
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DCM方法 |
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WinFTM® 版本 |
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操作系統(tǒng)： |
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